地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

走査型X線分析顕微鏡による画像分析とその地球科学への応用

論文題名(英語)=Chemical Imaging with X-ray Analytical Microscope and Its Applications to Earth Sciences

著者(日本語)=高野 雅夫

著者(英語)=TAKANO Masao

資料名(日本語)=ぶんせき

資料名(英語)=Bunseki

号=290

頁=104-112

発行年=1999

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本分析化学会

発行者(英語)=Japan Society for Analytical Chemistry

論文の言語区分=JA

ISSN番号=03862178

ID=199902788

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/199902788