地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

軸方向測光-半導体光検出器型ICP-AESによる炭酸塩岩石標準試料中主・微量成分の分析（ポスターセッション）（演旨）

論文題名（英語）=Determination of major and minor components in carbonate rock reference samples by axial plasma-solid state photo detector ICP-AES (poster session) (abs.)

著者（日本語）=岡井 貴司, 今井 登

著者（英語）=OKAI T., IMAI N.

資料名（日本語）=日本地球化学会年会講演要旨集

資料名（英語）=Annual Meeting of the Geochemical Society of Japan

巻=1998

頁=220-220

発行年=1998

出版国=JPN

発行者（日本語）=日本地球化学会

発行者（英語）=Geochemical Society of Japan

論文の言語区分=JA

ID=199807196

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/199807196