地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

ガラスビード法(5倍希釈)による岩石の蛍光X線主成分・微量成分分析

論文題名(英語)=Quantitative analysis of major and trace elements with XRF using glass beads (sample: flux=1:5)

著者(日本語)=内藤 一樹, 高木 哲一

著者(英語)=NAITO Kazuki, TAKAGI Tetsuichi

資料名(日本語)=地質調査所研究資料集

資料名(英語)=GSJ Open-File Report

号=331

頁=99

発行年=1998

出版国=JPN

発行者(日本語)=地質調査所

発行者(英語)=Geological Survey of Japan

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=JA

ID=199806167

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/199806167