地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

高密度電気探査を適用した斜面上構造物の変状解析調査(演旨)

論文題名(英語)=Investigation applied resistivity image profiling exploration for the structure on slope (abs.)

著者(日本語)=藤白 隆司, 横矢 直道, 船山 満也

資料名(日本語)=日本応用地質学会研究発表会講演論文集

巻=1998

頁=53-56

発行年=1998

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本応用地質学会

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=JA

ID=199801011

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/199801011