地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

二次イオン質量分析法

論文題名(英語)=Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

著者(日本語)=森下 祐一

著者(英語)=MORISHITA Yuichi

資料名(日本語)=地球科学

資料名(英語)=Earth Science (Chikyu Kagaku)

巻=51

号=5

頁=382-383

発行年=1997

出版国=JPN

発行者(日本語)=地学団体研究会

発行者(英語)=Association for the Geological Collaboration in Japan

論文の言語区分=JA

ISSN番号=03666611

DOI=10.15080/agcjchikyukagaku.51.5_382

ID=199705097

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/199705097