地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

外部PIXE(Proton induced X-ray emission)法による大型試料の微小領域・微量元素分析の開発(1)(演旨)

論文題名(英語)=Development of external PIXE method for micro-area trace element analysis of large specimen (1) (abs.)

著者(日本語)=末野 重穂, 島 邦博, 黒沢 正紀, 古野 興平, 出口 匡

著者(英語)=SUENO Shigeho, SHIMA Kunihiro, KUROSAWA Masanori, FURUNO Kouhei, DEGUCHI Yasushi

資料名(日本語)=地球惑星科学関連学会合同大会予稿集

資料名(英語)=Abstracts, Japan Earth and Planetary Science Joint Meeting

巻=1996

頁=254-254

発行年=1996

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本地震学会, 日本火山学会, 日本測地学会, 日本地球化学会, 日本惑星科学会, 日本岩石鉱物鉱床学会, 地球電磁気・地球惑星圏学会, 日本鉱物学会, 資源地質学会, 日本第四紀学会

発行者(英語)=Seismological Society of Japan, Volcanological Society of Japan, Geodetic Society of Japan, Geochemical Society of Japan, Japan Society for Planetary Science, Japanese Association of Mineralogists, Petrologist and Economic Geologists, Society of Geomagnetism and Earth, Planetary and Space Sciences, Mineralogical Society of Japan, Society of Resource Geology, Japan Association for Quaternary Research

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ID=199609499

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/199609499