地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

微晶質セキエイの粉末X線法による回折線プロファイルの強度,広がりの特徴についての解釈(演旨)

著者(日本語)=西田 孝

資料名(日本語)=日本鉱物学会年会講演要旨集

資料名(英語)=Mineralogical Society of Japan, Annual Meeting Abstracts

巻=1995

頁=65-65

発行年=1995

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本鉱物学会

発行者(英語)=Mineralogical Society of Japan

論文の言語区分=JA

ID=199607162

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/199607162