地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

蛍光X線による鉱物試料の状態分析とイメージング(演旨)

著者(日本語)=中井 泉, 土山 明, 宮脇 律郎, 今井 克宏

資料名(日本語)=日本鉱物学会年会講演要旨集

資料名(英語)=Mineralogical Society of Japan, Annual Meeting Abstracts

巻=1990

頁=62-62

発行年=1990

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本鉱物学会

発行者(英語)=Mineralogical Society of Japan

論文の言語区分=JA

ID=199003553

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/199003553