地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

放射光蛍光X線分析法による鉱物試料の二次元状態分析(演旨)

著者(日本語)=中井 泉, 河嶌 拓治, 鈴木 淑夫, 飯田 厚夫

資料名(日本語)=日本鉱物学会年会講演要旨集

資料名(英語)=Mineralogical Society of Japan, Annual Meeting Abstracts

巻=1988

頁=134-134

発行年=1988

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本鉱物学会

発行者(英語)=Mineralogical Society of Japan

論文の言語区分=JA

ID=198804339

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198804339