地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

蛍光X線による岩石中の主成分及び微量成分の分析(演旨)

著者(日本語)=後藤 篤, 巽 好幸, 村崎 充弘, 戸田 勝久, 河野 久征, 村田 守, 内田 哲男

資料名(日本語)=三鉱学会連合学術講演会講演要旨集

巻=1988

頁=10-10

発行年=1988

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本鉱山地質学会, 日本岩石鉱物鉱床学会, 日本鉱物学会

論文の言語区分=JA

ID=198800843

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198800843