地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

二次イオン質量分析法による絶縁物の分析

論文題名(英語)=Secondary Ion Mass Spectrometry for Insulators

著者(日本語)=圦本 尚義, 末野 重穂

著者(英語)=YURIMOTO Hisayoshi, SUENO Shigeho

資料名(日本語)=日本結晶学会誌

資料名(英語)=Journal of the Crystallographic Society of Japan

巻=29

号=4

頁=259-269

発行年=1987

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本結晶学会

発行者(英語)=Crystallographic Society of Japan

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ISSN番号=03694585

DOI=10.5940/jcrsj.29.259

ID=198706963

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198706963