地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

斜長石中の微細包有物の分析電子顕微鏡による研究（演旨）

著者（日本語）=土山 明, 北村 雅夫, 森本 信男

資料名（日本語）=日本鉱物学会年会講演要旨集

巻=1986

頁=134-134

発行年=1986

出版国=JPN

発行者（日本語）=日本鉱物学会

論文の言語区分=JA

ID=198605124

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198605124