地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

蛍光X線による岩石の主成分および微量成分の分析(演旨)

著者(日本語)=村田 守, 河野 久征

資料名(日本語)=日本地質学会第93年学術大会講演要旨

巻=93

頁=438-438

発行年=1986

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本地質学会

論文の言語区分=JA

DOI=10.14863/geosocabst.1986.0_438

ID=198602947

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198602947