地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

X線マイクロアナライザーによる山陰地方のテフラの鉱物特性と二,三,の地学事例への適用(演旨)

論文題名(英語)=Studies of the tephra deposits in San'in region by electron probe microanalyzer and their practical application to some geological probrems

著者(日本語)=三浦 清, 林 正久

資料名(日本語)=地形

巻=7

号=3

頁=205-205

発行年=1986

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本地形学連合

論文の言語区分=JA

ISSN番号=3891755

ID=198602689

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198602689