地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

X線回折法による電子密度解析

論文題名(英語)=Studies of Electronic States with the X-Ray Diffraction Method

著者(日本語)=田中 清明, 丸茂 文幸

著者(英語)=TANAKA Kiyoaki, MARUMO Fumiyuki

資料名(日本語)=鉱物学雑誌

資料名(英語)=Journal of the Mineralogical Society of Japan

巻=16

号=5

頁=371-383

発行年=1984

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本鉱物学会

発行者(英語)=Mineralogical Society of Japan

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ISSN番号=4541146

DOI=10.2465/gkk1952.16.371

ID=198403613

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198403613