地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

地学試料の電子顕微鏡的観察−−その4. 走査顕微鏡による高さの計測−−

論文題名(英語)=Electron Microscopy of the Geologic Materials Part 4. A Method of Measurement of Height by Scanning Electrom Microscope

著者(日本語)=大久保 雅弘

著者(英語)=OKUBO Masahiro

資料名(日本語)=島根大学理学部紀要

資料名(英語)=Memoirs of the Faculty of Science, Shimane University

号=17

頁=87-93

発行年=1983

出版国=JPN

発行者(日本語)=島根大学理学部

発行者(英語)=Faculty of Science, Shimane University

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ISSN番号=3879925

ID=198402739

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198402739