地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

X2YSi2O7メリライトにおけるSi-O距離とYイオンの電子密度の役割

論文題名(英語)=Si-O distances in X2YSi2O7 melilites and role of the electron density of the Y ions

著者(日本語)=大橋 晴夫

著者(英語)=OHASHI Haruo

資料名(日本語)=岩石鉱物鉱床学会誌

資料名(英語)=Journal of the Japanese Association of Mineralogists, Petrologists and Economic Geologists

巻=79

号=6

頁=235-238

発行年=1984

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本岩石鉱物鉱床学会

発行者(英語)=Japanese Association of Mineralogists, Petrologists and Economic Geologists

論文の言語区分=EN

アブストラクトの言語区分=EN, JA

ISSN番号=00214825

DOI=10.2465/ganko1941.79.235

ID=198402658

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198402658