地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

光学的観察方法による電子デバイス用結晶評価

論文題名(英語)=Characterization of Electron Device Crystals

著者(日本語)=高須 新一郎

著者(英語)=TAKASU Shin'ichiro

資料名(日本語)=鉱物学雑誌

資料名(英語)=Journal of the Mineralogical Society of Japan

巻=16

号=2

頁=185-198

発行年=1983

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本鉱物学会

発行者(英語)=Mineralogical Society of Japan

論文の言語区分=JA

アブストラクトの言語区分=EN

ISSN番号=04541146

DOI=10.2465/gkk1952.16.185

ID=198304054

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198304054