地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

X線マイクロ・ディフラクトメーター用簿片試料の作製方法について

論文題名(英語)=The method of preparation of thin section for X-ray micro-diffractometer

著者(日本語)=戸間替 修一

著者(英語)=TOMAGAE Shuichi

資料名(日本語)=北海道立地下資源調査所報告

資料名(英語)=Report of the Geological Survey of Hokkaido

号=53

頁=95-98

発行年=1982

出版国=JPN

発行者(日本語)=北海道立地下資源調査所

発行者(英語)=Geological Survey of Hokkaido

論文の言語区分=JA

ISSN番号=4410785

ID=198205007

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198205007