地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

岩石の微小変形量を光の干渉を利用して検出する方法とそれによるクリープの測定例

著者（日本語）=伊藤 英文

資料名（日本語）=構造地質研究会誌

号=17

頁=15-15

発行年=1975

出版国=JPN

発行者（日本語）=構造地質研究会

論文の言語区分=JA

ID=198201390

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198201390