地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

M22+SiO4カンラン石における光電子スペクトルの化学シフトとSi-O結合距離との間の相互関係

論文題名(英語)=Correlation Between Chemical Shifts of X-ray Photoelectron Spectra and Si-O Bond Lengths in M22+SiO4 Olivines

著者(日本語)=大橋 晴夫

著者(英語)=OHASHI Haruo

資料名(日本語)=岩石鉱物鉱床学会誌

資料名(英語)=Journal of the Japanese Association of Mineralogists, Petrologists and Economic Geologists

巻=76

号=8

頁=273-275

発行年=1981

出版国=JPN

発行者(日本語)=日本岩石鉱物鉱床学会

発行者(英語)=Japanese Association of Mineralogists, Petrologists and Economic Geologists

論文の言語区分=EN

アブストラクトの言語区分=JA, EN

ISSN番号=00214825

DOI=10.2465/ganko1941.76.273

ID=198102351

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/198102351