地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

有孔虫Elphidium類におけるretral processの走査型電子顕微鏡

論文題名(英語)=Scanning Electron Microscopic Aspect of the Retral Process in Some Elphidiids (Foraminiferida)

著者(日本語)=氏家 宏

著者(英語)=UJIIE Hiroshi

資料名(日本語)=国立科学博物館研究報告 C類(地学)

資料名(英語)=Bulletin of the National Science Museum, Series C (Geology)

巻=1

号=4

頁=117-126

発行年=1975

出版国=JPN

発行者(日本語)=国立科学博物館

発行者(英語)=National Science Museum

論文の言語区分=EN

ID=197603749

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/197603749