地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]
論文題名（英語）=Semiconductor Detector and Its Applications to the X-ray Diffraction Method
著者（日本語）=島津 正司, 中沢 弘基
著者（英語）=SHIMAZU Masaji, NAKAZAWA Hiromoto
資料名（日本語）=鉱物学雑誌
資料名（英語）=Journal of the Mineralogical Society of Japan
巻=11
号=6
頁=411-431
発行年=1974
出版国=JPN
発行者（日本語）=日本鉱物学会
発行者（英語）=Mineralogical Society of Japan
論文の言語区分=JA
ID=197400863