地質文献データベース (GEOLIS) [(国研)産業技術総合研究所地質調査総合センター編]

RI線源を用いるけい光X線分析における分析感度の向上

論文題名(英語)=Investigation of Factors Leading to Improved Sensitivity in Radioisotope X-ray Fluorescence Analysis

著者(日本語)=古田 富彦, RHODES John R.

著者(英語)=FURUTA Tomihiko, RHODES John R.

資料名(日本語)=名古屋工業技術試験所報告

資料名(英語)=Reports of the Government Industrial Research Institute, Nagoya

巻=21

号=6

頁=142-151

発行年=1972

出版国=JPN

発行者(日本語)=名古屋工業技術試験所

発行者(英語)=Government Industrial Research Institute, Nagoya,

論文の言語区分=EN

アブストラクトの言語区分=JA, EN

ID=197201473

@id=https://gbank.gsj.jp/ld/resource/geolis/197201473